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EM22EM22 自動橢圓偏振測厚儀

EM22自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測量原理，針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動測量型教學(xué)儀器。

EM22儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。

EM22儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。

特點

經(jīng)典消光法橢偏測量原理

儀器采用消光法橢偏測量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。

方便安全的樣品水平放置方式

采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。

緊湊的一體化結(jié)構(gòu)

集成一體化設(shè)計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機(jī)相連，方便使用。

高準(zhǔn)確性的激光光源

采用激光作為探測光波，測量波長準(zhǔn)確度高。

豐富實用的樣品測量功能

可測量納米薄膜的膜厚和折射率；塊狀材料的復(fù)折射率、樣品反射率、樣品透過率。

便捷的自動化操作

儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進(jìn)行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。

安全的用戶使用權(quán)限管理

軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、操作者等模式），便于儀器管理和使用。

可擴(kuò)展的儀器功能

利用本儀器，可通過適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。

應(yīng)用

EM22適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。

EM22可測量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。

技術(shù)指標(biāo)

項目	技術(shù)指標(biāo)
儀器型號	EM22
測量方式	自動測量
樣品放置方式	水平放置
光源	He-Ne激光器，波長632.8nm
膜厚測量重復(fù)性^*	0.5nm （對于Si基底上100nm的SiO₂膜層）
膜厚范圍	透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān)
折射率范圍	1.3 – 10
探測光束直徑	Φ2-3mm
入射角度	30°-90°，精度0.05°
偏振器方位角讀數(shù)范圍		偏振器步進(jìn)角	樣品方位調(diào)整	Z軸高度調(diào)節(jié)：16mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4°
允許樣品尺寸	樣品直徑可達(dá)Φ160mm
配套軟件	* 用戶權(quán)限設(shè)置 * 多種測量模式選擇 * 多個測量項目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計算、輸入輸出
最大外形尺寸	約400400250mm
儀器重量（凈重）	約20Kg
選配件	* 半導(dǎo)體激光器

注：（1）測量重復(fù)性：是指對標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量30次所計算的標(biāo)準(zhǔn)差。

性能保證

ISO9001國際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證
專業(yè)的橢偏測量原理課程
專業(yè)的儀器使用培訓(xùn)

該公司產(chǎn)品分類：在線橢偏儀激光橢偏儀光譜橢偏儀

o 儀器測量精度：在10nm處誤差為±0.5nm； o 光學(xué)中心高度：75㎜； o 允許樣品尺寸直徑：Φ10~Φ120㎜，厚度≤10㎜； o 外形尺寸：730 x230X 290； o 主機(jī)重量：30kg；測量范圍：1nm～4000nm； o 測量最小值：≤1nm； o 鍍膜折射率范圍：1.3 ~ 2.49 o 入射角：40°～90°　　誤差≤0.05°； o 偏振器方位角范圍：0°～180°；儀器測量精度：在10nm處誤差為±0.5nm；光學(xué)中心高度：75㎜；允許樣品尺寸直徑：Φ10~Φ120㎜，厚度≤10㎜；外形尺寸：730 x230X 290；主機(jī)重量：30kg；偏振器步進(jìn)角：0.0375°/步；本儀器分為光源、接收器、主機(jī)、電子及通訊四部分，外觀參看右圖。1、　光源：采用波長為632.8nm的氦氖激光光源①其特點是：光強大、光譜純、波長穩(wěn)定性好。2、　接收器：采用光電倍增管⑤，把光訊號變?yōu)殡娪嵦�，�?jīng)放大后輸出至微機(jī)，由微機(jī)選擇出消光位置的角度值。3、　主機(jī)部分：除以上兩項外，還有起偏組件②，樣品臺③，檢偏組件④。4、電子及通訊部分⑥：采集光強及對應(yīng)的角度值并傳輸?shù)接嬎銠C(jī)，再接收由計算機(jī)發(fā)出的指令逐步靠近消光點。

BXS10-SGC-I橢圓偏振測厚儀橢圓偏振厚度測定儀橢圓偏振厚度儀出租

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型號:BXS10-SGC-I

※ 測量范圍 1nm-300nm

※ 測量小值 ≤1nm

※ 入射角 30°- 90° 誤差≤0.1°

※ 偏振器方位角讀數(shù)范圍 0°- 180°

※ 度盤刻度每格2度

※ 游標(biāo)小讀數(shù) 0.05°

※ 光學(xué)中心高度 152

※ 工作臺直徑 ?70

※ 外形尺寸 730*230*290

※ 主機(jī)重量 20kg

該公司產(chǎn)品分類：石油化工分析儀器環(huán)保分析儀器煤質(zhì)分析儀器水源檢測探測儀自動分析儀器水質(zhì)檢測儀器光譜系列原子吸收系列色譜系列生化系列熒光系列食品檢測專用儀激光粒度儀水份儀系列紫外線系列在線檢測產(chǎn)品硬度計系列電火花檢測儀工業(yè)分析儀器多元素分析儀

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